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首页 > 北京重点领域发明专利数据库 > 激光技术
基于激光跟踪技术的大型齿轮测量方法
来源 : 北京市科技情报研究所
 

申请号:

200910084275

申请日:

2009/05/15

公开日:

2009/10/07

公告日:

公开号:

101551240

公告号:

授权日:

授权公告日:

专利类别:

发明

国别省市代码:

11[中国|北京]

代理机构代码:

11203[ ]

代理人:

张慧

发明名称:

基于激光跟踪技术的大型齿轮测量方法

国际分类号:

G01B 11/24;G01B 11/06;G01B 11/03;G01B 11/00

范畴分类号:

31B

发明人:

石照耀;林家春

申请人:

北京工业大学

申请人地址:

北京市朝阳区平乐园100

邮编:

100124

文摘:

本发明是一种利用激光跟踪仪的大型齿轮测量方法,能够对直径大于500mm的齿轮进行测量,特别适合3000mm的特大型齿轮测量。本发明通过拟合的方法先确定被测齿轮的端平面,然后再确定本测齿轮的轴线,进而建立了被测齿轮坐标系。再利用激光跟踪仪建立三坐标测量单元沿三个运动轴的坐标系统,然后通过坐标变换建立被测齿轮坐标系和三坐标测量单元的坐标变换关系。测量前,根据测量参数的不同,对三坐标测量单元进行标定,标定的结果用于对测量误差的补偿。本发明首次将激光跟踪仪应用到大齿轮测量当中,实现对直径大于500mm大齿轮的齿形、齿向、接触线、齿厚、齿面三维拓扑误差的测量,为大齿轮的测量提供了一种新的高精度测量手段。

 
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