由中国科学院计算技术研究所完成

        该项目的主要技术内容有：提出了实速检测片上捕获信号生成方法，用于交流扫描测试的快速信号产生电路可重配置，具有电路结构简单、延迟小、且和待测电路无关的特性，可实速捕获测试响应，满足了使用低速测试仪测试1GHz高频数字电路的需求；提出了集成电路全速电流测试方法，通过测量电路变化时消耗的平均电流来检测IDDQ和IDDT可测试的故障，可检测那些用电压测试方法无法检测的故障；提出了支持故障诊断的测试响应压缩技术，利用卷积变换提供空间和时间维度上的测试压缩，单输出确保了最大压缩率；针对响应中错误位分布特点，能够定位3位及以下错误位信息；提出了测试流程优化技术，设计了测试项目划分及快速测试流程调度方法，而不依赖耗时的动态规划方法。